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- 产品名称:X射线荧光光谱仪
- 型号:X-7600 SDD/LE型
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- 主要特点:产地：美国 主要特点： 1)X-7600SDD/LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“最先进”的概念,使得元素周期表中所有元素的检测都能得到最佳结果。 2
- 描述:技术参数：测量能力测量范围Ｃ(６)－Ｆｍ（１００）元素含量分析范围ppm - 100% （在指定应用领域中）X光管X光源Rh – 阳级标准X-射线电压60kV, 400W.激发模式二次靶激发模式稳定性室温条件下精确到0.1%X光探测器探测器硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮分辨率136 eV ± 5eV at 5.9 keV.窗口Be.特性自动成样10 个位置工作条件空气/真空/氦气滤光片8款可选的软件二次靶8款可选的软件: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.电源115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz.脉冲加工多信道分析光学专利 WaG ® (广角几何)尺寸（L×W×H，cm）85×85×105(不含包装)，145×95×135（含包装）重量170Kg（净重），220Kg(总重)样品室尺寸直径28cm,高5cm电脑集成 pc.软件操作软件nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。控制样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。光谱处理逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。定量分析算法考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。报告用户可自定的数据报表及打印形式